Agilent 4279A 1MHz C-V表
Agilent 4279A 1MHz C-V表在測量半導(dǎo)體的電容和偏置電壓特性方面，是提G測量質(zhì)量和吞吐量的**解決方案。Agilent 4279A在掃描直流偏置電壓的同時，可測量0.00001pF至1280.00pF范圍的電容，基本精度為0.1%，顯示分辨率為6位。因為偏置電壓不確定度很低，所以在+/-38V范圍內(nèi)，電壓精度達(dá)0.1%的內(nèi)部可編程直流偏置掃描源可確保非常少的測量錯誤。這使Agilent 4279A成為了**表征和測試變?nèi)荻O管、MOS二極管等的器件理想工具。測量時間具有三種可選模式：10ms、20ms和30ms/meas，以達(dá)到Z大生產(chǎn)效率。Agilent 4279A的快速量程選擇和G速GP-IB數(shù)據(jù)傳輸能力可以縮短測試時間。自動偏置極性控制特性有助于為被測件快速選擇正確的極性偏置電壓。這種新功能簡化了輸入/輸出檢查中的手動采樣測試，并為自動測試系統(tǒng)提供了簡單的極性控制方法。
主要技術(shù)指標(biāo)
用于晶片摻雜的C-V測量
變?nèi)荻O管的C-V表征和分類。
射頻混頻器和轉(zhuǎn)換二極管的電容測試。
通過進(jìn)廠檢驗的應(yīng)用直流偏置測試電容器。
測量時間：10ms/20ms/30ms
測量精度：0.1%（20ms）
內(nèi)部直流偏置：0至+/-38V，0.1%可編程掃描
測量范圍：0.00001pF至1280pF

美國HP惠普 4284A G精度LCR測試儀 20Hz-1MHz 可程控

4284A的簡單介紹：

20Hz-1MHz具有8600個以上的測試頻率

0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨率

恒定的V或I測試信號電平

20Vrms電平選件（選件001）

用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc

具有列表掃描測量功能

Agilent 4284A精密LCR測試儀是用于元件和材料測量的價廉物美的儀器。它通過提供J確、G吞吐量的測試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測頻范圍和優(yōu)良的測試信號，使4284A在測試元件時符合通行的測試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)（國際電工委員會或美國標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使.

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