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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：E6607C 綜合測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào)：E6607C
  • 產(chǎn)品廠商：美國(guó)是德Keysight/安捷倫Agilent/惠譜HP
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
E6607C EXT 多端口無(wú)線通信測(cè)試儀
詳情介紹：
E6607C EXT Multiport Wireless Communications Test Set
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
Integrated Multiport enables efficient Multi-DUT test
? Integrated multiport provides for parallel receiver test / fast switched transmitter test making effective use of test equipment resources
? Lower cost, smaller footprint, lower power consumption verses use of external multiport adapter
? Fully compatible with software written for E6607A / E6607B for seamless integration in manufacturing
? Add external display, mouse, and keyboard, for full manual control and functionality equivalent to E6607B & MPA
Anticipate your wireless device manufacturing test needs
? Benefit from an architecture that is optimized for lower-cost next generation non-signaling test
? Add multi-format standards-based calibration and verification test support as needed for LTE TDD/FDD, HSPA+, W-CDMA, 1xEV-DO, cdma2000®, GSM, EDGE-Evo, TD-SCDMA, WiMAXTM, Bluetooth®, GPS/GNSS, and more
? Ensure your test system is future proof due to its modern, scalable architecture
Accelerate test development
? Ensure seamless transition from NPI to production with proven X-Series analyzer measurements science
? Simplify signal creation to synchronize, control, and test your wireless device with Signal Studio software
? Streamline test plan creation and troubleshooting in a graphical interface with Sequence Studio software
? Reduce time to volume manufacturing with Chipset Software to optimize device calibration and verification
Achieve fast and accurate measurements
? Maximize throughput with fast-sequenced, non-signaling test modes for modern chipsets
? Speed up your test plan in sequence analyzer mode with single acquisition, multiple measurements
? Increase your production yield with superior measurement accuracy

? Cost effective integrated Multiport Adapter with metrology grade precision and balancing


主要特性與技術(shù)指標(biāo)

綜合多端口解決方案支持高效的多被測(cè)器件測(cè)試

  • 綜合多端口測(cè)試儀充分利用測(cè)試資源，可執(zhí)行并行接收機(jī)測(cè)試/快速切換發(fā)射機(jī)測(cè)試
  • 與外部多端口適配器相比，具有更低成本、更小體積和更低功耗
  • 與專為 E6607A/E6607B 編寫(xiě)的軟件完全兼容，可在制造過(guò)程中實(shí)現(xiàn)**集成
  • 添加了外部顯示器、鼠標(biāo)和鍵盤(pán)，實(shí)現(xiàn)全手動(dòng)控制和與 E6607B 和 MPA 等效的功能

預(yù)測(cè)您的無(wú)線設(shè)備制造測(cè)試需求

  • 測(cè)試儀器的硬件架構(gòu)可針對(duì)下一代低成本非信令測(cè)試進(jìn)行*大限度的優(yōu)化
  • 根據(jù) LTE TDD/FDD、HSPA+、W-CDMA、1xEV-DO、cdma2000®、GSM、EDGE-Evo、TD-SCDMA、WiMAXTM、藍(lán)牙®、GPS/GNSS 等技術(shù)的需要，添加多制式標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)和驗(yàn)證測(cè)試支持
  • 確保您的測(cè)試系統(tǒng)具備現(xiàn)代化、可擴(kuò)展的體系結(jié)構(gòu)，以滿足未來(lái)需求

加快測(cè)試開(kāi)發(fā)速度

  • 利用業(yè)經(jīng)驗(yàn)證的 X 系列分析儀測(cè)量技術(shù)，確保從 NPI 到生產(chǎn)流程的無(wú)縫過(guò)渡
  • 使用 Signal Studio 軟件簡(jiǎn)化信號(hào)生成，以便對(duì)您的無(wú)線設(shè)備進(jìn)行同步、控制與測(cè)試
  • 使用 Sequence Studio 軟件的圖形界面簡(jiǎn)化測(cè)試計(jì)劃的創(chuàng)建與故障診斷
  • 使用 Chipset 軟件優(yōu)化器件的校準(zhǔn)與驗(yàn)證，以便縮短批量制造時(shí)間

實(shí)現(xiàn)快速**的測(cè)量

  • 為現(xiàn)代芯片組提供快速序列非信令測(cè)試模式，以便*大程度地提高吞吐量
  • 利用單次采集多項(xiàng)測(cè)量技術(shù)加快序列分析儀模式中的測(cè)試計(jì)劃
  • 出眾的測(cè)量精度可以提升產(chǎn)品良率
  • 經(jīng)濟(jì)高效的綜合多端口適配器具有計(jì)量級(jí)精度和平衡

描述

改造生產(chǎn)測(cè)試

在更快將新一代蜂窩通信設(shè)備推向市場(chǎng)的同時(shí)，改善您的投資回報(bào)率（ROI）。

Keysight E6607C（EXT-C）無(wú)線通信測(cè)試儀可以提供您需要的功能，幫助您對(duì)復(fù)雜的蜂窩通信設(shè)備進(jìn)行高吞吐量測(cè)試，同時(shí)讓您的資本投資得到有效利用。在當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激勵(lì)的環(huán)境中，測(cè)試設(shè)備資源閑置是令人無(wú)法容忍的。通過(guò)整合多端口功能，EXT-C 可以*好地利用整合的 VSA/VSG 來(lái)實(shí)施并行接收機(jī)測(cè)試和快速切換的發(fā)射機(jī)測(cè)試。

EXT-C 是一款非信令綜測(cè)儀，它將**的測(cè)試序列發(fā)生器、矢量信號(hào)分析儀（VSA）、矢量信號(hào)發(fā)生器（VSG）和高精度多端口適配器融為一體。EXT-C 包含 8 個(gè)雙向輸入/輸出端口，可用于多制式蜂窩測(cè)試，另外包括 4 個(gè)輸出端口，可用于 GNSS 測(cè)試。符合標(biāo)準(zhǔn)的快速測(cè)量和調(diào)制分析功能以 Keysight X 系列信號(hào)分析儀業(yè)經(jīng)驗(yàn)證的測(cè)量算法為基礎(chǔ)。

利用 E6607B（EXT-B）快速、準(zhǔn)確的測(cè)量和靈活的序列發(fā)生器技術(shù)，EXT-C 可以組成更低成本的綜合多端口解決方案，除了可以降低測(cè)試成本之外，還提供更小體積和更低功耗等優(yōu)勢(shì)。


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