- 鎖相放大器
- 毫微表/微歐表
- 皮安計(jì)/靜電計(jì)/高阻表
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- 高阻測(cè)試儀
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- 微波分析儀
- 頻譜分析儀(信號(hào)分析儀)
- 信號(hào)源/信號(hào)發(fā)生器
- 數(shù)字示波器
- 網(wǎng)絡(luò)分析儀
- 網(wǎng)絡(luò)/頻譜/阻抗分析儀
- 示波器
- 阻抗分析儀
- 數(shù)字萬(wàn)用表
- 信號(hào)發(fā)生器
- 多功能校準(zhǔn)儀
- 耐壓測(cè)試儀
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- 測(cè)試接收機(jī)
- 電視信號(hào)發(fā)生器
- 電能質(zhì)量分析儀
- 波形發(fā)生器合成模塊
- 可編程交流電源
- 電子負(fù)載
- 直流電源
- 函數(shù)/任意波形發(fā)生器
- 耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
- 電池測(cè)試儀
- 光示波器
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- 示波器校準(zhǔn)器
- 萬(wàn)用表校準(zhǔn)儀
- 無(wú)線綜合測(cè)試儀
- EMI 接收機(jī)
- 雷擊浪涌發(fā)生器
- 靜電放電模擬試驗(yàn)器
- 半導(dǎo)體測(cè)試儀
- 天饋線/駐波比測(cè)試儀
- 雷擊浪涌耦合/去耦
- 直流電子負(fù)載
- 光功率計(jì)
- 音頻分析儀
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- 放大器
- 脈沖群發(fā)生器/模擬試驗(yàn)器
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- 數(shù)字源表
- 靜電放電發(fā)生器
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- 安規(guī)綜合測(cè)試儀
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- 動(dòng)態(tài)分析儀
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- 毫歐表|高阻計(jì)|高阻測(cè)試儀
- 示波器探頭
- 函數(shù)信號(hào)發(fā)生器
- 功率計(jì)/功率分析儀
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- 納伏表/微歐表
- 手持頻譜分析儀
- 光波長(zhǎng)計(jì)
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- 高電阻靜電計(jì)
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收購(gòu)租售Tektronix/泰克 TEK371B TEK370A晶體管測(cè)試儀
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370B 是 Tektronix 的曲線跟蹤器。曲線跟蹤器或曲線檢查器是工程師用來(lái)分析半導(dǎo)體器件特性的一種電子測(cè)試設(shè)備。曲線追蹤器包含電流和電壓源,以刺激被測(cè)設(shè)備 (EUT)。曲線跟蹤器將掃描電壓施加到 EUT 的兩個(gè)端子,測(cè)量在每個(gè)電壓下流動(dòng)的電流水平。
特點(diǎn):
使用 370B 進(jìn)行高分辨率直流參數(shù)測(cè)量(分辨率低至 1 pA 或 2 ?V)
使用 371B 提供高電壓和電流源(高達(dá) 3,000 V 或 400 A)
內(nèi)置光標(biāo)測(cè)量 - 點(diǎn)、窗口和功能線
開(kāi)爾文感應(yīng)測(cè)量
掃描測(cè)量模式
波形比較和平均
完全可編程
1.44 MB 軟盤存儲(chǔ)設(shè)置和曲線位圖
使用第三方打印機(jī)直接硬拷貝
半導(dǎo)體的參數(shù)表征
故障分析
數(shù)據(jù)表生成
制造測(cè)試
過(guò)程監(jiān)控和質(zhì)量控制
即將到來(lái)的檢查
組件匹配
泰克 370B 提供高達(dá) 20 A/2,000 V 的源電流能力以及 1 pA 和 50 micro V 的測(cè)量分辨率。370B 對(duì)集成電路、晶體管、晶閘管、二極管、SCR、MOSFET、電光元件、太陽(yáng)能電池、固態(tài)繼電器和其他半導(dǎo)體器件進(jìn)行直流參數(shù)表征。它具有按鈕源和測(cè)量配置,因此很容易從一個(gè)測(cè)試更改為下一個(gè)測(cè)試。